檢測(cè)項(xiàng)目
聚焦離子束分析(FIB)
1、聚焦離子束技術(shù)(FIB)聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
X射線光電子能譜分析(XPS)
1. X射線光電子能譜技術(shù)X射線光電子能譜技術(shù)(X-ray photoelectron spectroscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)X...
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析(D-SIMS)
1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
1. 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Time of Flight Secondary Ion Mas...
俄歇電子能譜分析(AES)
1.俄歇電子能譜技術(shù)(AES)俄歇電子能譜技術(shù)(Auger electron spectroscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)AES),是...
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